性能測(cè)試是對(duì)于系統(tǒng)的特性而言的，因此在測(cè)試過程中必須將讀寫器和標(biāo)簽結(jié)合起來進(jìn)行測(cè)試。RFID設(shè)備的性能要受到系統(tǒng)和環(huán)境因素的影響和限制，另外，rfid手持機(jī)的信息處理量以及處理速度也是受許多因素限制的，不同的RFID技術(shù)也會(huì)導(dǎo)致相應(yīng)的制約因素的差異。
有別于對(duì)RFID芯片、讀寫器、天線等產(chǎn)品進(jìn)行的性能測(cè)試，這種測(cè)試是一種應(yīng)用測(cè)試，是在接近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境的場(chǎng)景下，對(duì)RFID實(shí)施方案進(jìn)行測(cè)試，RFID系統(tǒng)實(shí)施者可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果不斷修改和完善方案，并積累RFID項(xiàng)目實(shí)施經(jīng)驗(yàn)，盡可能減少在企業(yè)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施時(shí)出現(xiàn)問題的可能性，這樣可以增強(qiáng)企業(yè)對(duì)RFID技術(shù)的信心，有利于RFID技術(shù)的應(yīng)用推廣。
rfid手持機(jī)性能測(cè)試的主要內(nèi)容
●RFID應(yīng)用中不同材質(zhì)對(duì)電磁信號(hào)的影響及其解決方法
●RFID應(yīng)用流程與解決方案的測(cè)試驗(yàn)證
●RFID設(shè)備部署方案的測(cè)試驗(yàn)證
●RFID系統(tǒng)架
http://www.jnylzh.com構(gòu)的測(cè)試驗(yàn)證
●參數(shù)可控、可模擬現(xiàn)場(chǎng)物理應(yīng)用的測(cè)試平臺(tái)
●RFID與無線網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的跨網(wǎng)組網(wǎng)測(cè)試
