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核工業北京地質研究院分析研究中心是以核能材料、放射性的制備、地質礦產和分析技術研究與服務為主的綜合性檢測實驗室技術機構,也是核工業地質行業的仲裁分析實驗室,是地質行業同位素分析、微束分析等領域的權威機構。核工業北京地質研究院分析研究中心采購了兩臺特殊的質譜儀,今年兩臺設備同時到貨、安裝。一臺是法國公司的Cameca IMS 1280-hr高分辨二次離子質譜儀,另一臺是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與飛行時間二次離子質譜聯用。之所以采購兩臺二次離子質譜,是因為高分辨質譜儀以的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱,但成像及原位分析能力較差而聯用是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS),三者的結合,具有SEM的二維高分辨成像和成分、結構等分析能力,結合FIB的微區分析與加工能力,實現成分和結構的三維分析FIB與TOF-SIMS的聯用,相比于大型質譜儀具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優異的成像能力,同時操作也更簡單靈活。