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歐臬電阻CAH 150 C 510 12R KT電阻直銷上海自動化

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多摩川編碼器TS2640N241E172
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氣控閥3325M21-EC2B
emg顯示板DIM-02A0

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了解你的被測試裝置被測試裝置（DUT）的性能會顯著影響射頻測量。，溫度會影響穩定性，并因此與可重復性密切相關。許多射頻器件和射頻儀器沒有對溫度變化的內部補償。它們必須在穩定的溫度下工作以使溫度漂移引起的測量誤差。當前的環境（，空調循環的開啟與關閉，覆蓋物和面板的移除或增加，處于戶外或室內，以及是否接近熱源）會有很大影響。需要注意適當的預熱時間、被測試裝置的冷卻需求和周邊的環境以確保溫度穩定性。
MIDLAND-ACS閥3325M21-EC2B
ounie傳感器L1C2B1808PO3A5
歐臬ounie傳感器L1C2B1808NO3A6
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菲尼克斯MINI MCR-SL-PT100-UI-NC-2864273
ETAS接口模塊ES581.4 USB CAN
菲尼克斯QUINT4-PS-1AC/24DC/20
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