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BX-100DIC微分干涉相襯工業檢測顯微鏡

BX-100DIC微分干涉相襯工業檢測顯微鏡

ICM-100DIC工業檢測顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態進行顯微觀察。采用優良的無限遠光學系統與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統，實現偏光觀察,   DIC觀察等功能，導柱升降裝置，可以快速調整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。調焦機構采用圓柱滾子導向傳動，機構升降平穩。產品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產品檢測。 

性能特點
★ 采用優良的無限遠光學系統，可提供卓越的光學性能。
★ 緊湊穩定的高剛性主體，充分體現了顯微操作的防振要求。
★ 符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。
★ 機械式移動載物平臺，適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。
★ 模塊化的功能設計，可以方便升級系統，實現暗場觀察等功能。