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專用顯微鏡介紹幾種常用觀察方式（奧林巴斯顯微鏡現貨）

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專用顯微鏡介紹幾種常用觀察方式（奧林巴斯顯微鏡現貨）

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光學顯微鏡中BF\DF\POL\DIC\FL分別是什么意思?

BF：明場
DF：暗場
POL：偏光
DIC：微分干涉
FL：熒光

明場是顯微鏡觀察用到最多的一種方式.
暗場也叫超顯微觀察法,是因為他可以觀察到在明場下觀察不到的細小顆粒等.
偏光主要用于地質行業和化學高分子研究,在偏光下這些物質呈現不同的顏色.
微分干澀會使你看到的畫面出現類似浮雕的凹凸不平的圖象,這樣便于區分您要觀察的不同部分.
螢光主要用于生物鏡

微分干涉觀察法是將用明場觀察法可能觀察不到的式樣高度微小差異通過改善對比法變為立體或三維圖象的顯微觀察技術.照明光由微分干涉對比棱鏡變為兩束衍射光,這兩束衍射光使式樣高度差異造成在光路上的微小差異.而光路差異變為利用微分干涉對比棱鏡和檢驗偏振器的明暗對比.在利用敏感色板,加強了高度差異的顏色變化.
適用于檢測包括金相結構、礦物、磁頭、硬磁盤表面和晶片精制表面等有極其微細高度差異的式樣。
偏振光觀察法：是使用由兩個一組的濾色鏡（檢偏振器和起偏振器）形成偏光的顯微觀察技術。這些偏光始終保持相互垂直。一些式樣在兩個濾色鏡之間呈鮮明的對比，或根據雙折射性能和定向（即：鋅結構的拋光式樣）呈現顏色。在偏振器插在目鏡前的觀察光路時，起偏振器位于垂直照明前的光路。
適用于觀察金相結構（既球墨鑄鐵的石墨增長形態）礦物和液晶（LCD）以及半導體材料。
熒光觀察法：本技術用于發出熒光的式樣
適合利用熒光法檢測晶片的污染，感光性樹脂的殘留物，以及檢測裂縫

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