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| 品牌：GE | 型號：IAP-..25.3.2 | 頻率：0.25M Hz | ||||
| 功率：10 W | 破碎容量：12 ml | 占空比：20 | ||||
| 電源：3 V | 外形尺寸：9*9 mm | 重量：0.03 kg | ||||
| 用途：超聲波探頭 |
A-..和IAP-..：用于由金屬和非金屬材料制成的零部件中*小缺陷的探測，有非常高的分辨率，這些缺陷在零部件表面下分布展開：例如半導體基體、電氣插頭和表面保護層中的材料分離、氣孔和雜質等。同樣地，它還可以應用于擴散焊接、電阻焊接和粘合焊接等的測試，以及由陶瓷、粉末金屬、鈦和其它合金制成的預制成型零部件的測試。
接觸式和水浸式接觸法探頭
直射線---單晶
?被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
?接觸面或平或曲
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
?透透厚部件
?逐步塊改善提高近場分辨率
?需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊
?通常用于手動檢測
直探頭---雙晶
?接受發射單元用串擾擋板分開
?缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
?近表面分辨率好，用于較薄部件
?需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊
?通常用于手動檢測
斜探頭
?芯片安裝在內置的或可更換的斜塊上
?利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
?大多數標準探針通過模式轉換產生橫波
?有所傾斜的缺陷的檢測，如焊縫
?有單晶探頭和雙晶探頭
?需要聚合層，一般為凝膠，油類，漿糊
?有時用于機械化或自動化檢測2個換能器選擇標準和性能
| 壓電高聚物高頻直探頭 | 特性：非常高的分辨率，聚焦聲束寬度非常小 |
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IAP-..25.2.0.5 IAP-..25.2.1 IAP-..25.3.1 IAP-..25.3.2 IAP-..50.2.0.3 IAP-..50.2.0.5 IAP-..50.2.1 IAP-..50.3.1 IAP-..50.3.2 |
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IA-..25.2 IA-..25.3 IA-..50.2 IA-..50.3 |
