Solar電流探頭/注入探頭/校準夾具
品牌：Solar Electronics
型號：探頭
Solar Electronics EMI
Solar Electronics -1960年以來，專注與解決EMI電磁干擾研究，制造電磁干擾工程用設備！
電流探頭：
各種EMI規(guī)范（如MIL-STD-461/2）要求的電流探頭是環(huán)形變壓器，設計用于測量有源電源線或其他導體上的RF電流。
應用
當連接到射頻干擾測量接收器或頻譜分析儀的50Ω輸入端時，電流探頭用作測量單導體或電纜束中射頻電流的“拾取”裝置。
描述
不需要直接連接到承載EMI電流的導體，因為探頭可以打開以將導體插入環(huán)形窗口，然后再次關閉以形成環(huán)形變壓器，導體充當單匝初級。
提供了一個校正因子圖，用于將測量的μV轉換為EMIμAs。當EMI電流以dB為單位測量時，如傳統(tǒng)EMI儀表所示，高于1μV，校正系數(shù)將測量值轉換為高于1μa的dB。校正因子是傳輸阻抗Zt的倒數(shù)。每個探頭都附有校正系數(shù)與頻率的關系圖，該圖與探頭上的序列號相關聯(lián)。
我們?yōu)榇蠖鄶?shù)Stoddart和Eaton探頭提供等效產品。
注入探頭：
規(guī)范要求使用放置在被測導體周圍的插入式次級環(huán)形變壓器，將大的高頻電流注入電纜束和單根電線。
應用
輸出阻抗為50Ω的高功率射頻放大器用于向注射探頭輸送電壓。穿過探頭窗口的電線或電纜充當環(huán)形變壓器的次級。本測試方法旨在代替早期的方法，如MIL-STD-461的CS-01、CS-02和RS-02。
描述
大電流注入探頭有兩種類型：
1.固定窗口型，被測電線必須穿過窗口。
2.分體式環(huán)形設計，探頭可以打開并夾緊在被測導線上。
注入探頭也可用作電流探頭。提供了校正系數(shù)圖及其使用說明。
校準夾具：
在為特定窗口尺寸設計的測試夾具中，每個探頭都針對插入損耗和傳輸阻抗進行了校準。該夾具提供了一個低電壓駐波比（VSWR）的信號路徑。典型的夾具是Solar 9125-1型，用于直徑為32至44毫米的探頭。
技術信息
用作接收器的電流探頭被稱為“插入式初級環(huán)形變壓器”，用于連接EMI接收器。通過窗口向電線輸送高射頻電流的注入探頭稱為“插入式次級環(huán)形變壓器”。
穿過窗口的電線上承載的Max電壓僅受電線絕緣的限制。通過電流探頭窗口的導線中的Max一次電流列在規(guī)格選項卡的表中（符號lp）。
如規(guī)格選項卡中的表格所示，注射探頭的信號輸入以W為單位，來自信號源。
