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QFN28-0.35-3*3測試座0091TGH用于芯片燒錄老煉功能測試

產品價格：￥258.00（人民幣）

規格：QFN28-0.35-3*3-0091TGH

發貨地：廣東深圳

品牌：

最小起訂量：1

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深圳市鴻怡電子有限公司

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商品詳情

產品參數
型號	QFN28-0.35-3*3-0091TGH
封裝/規格	插件
間距	0.35
總針腳數	28
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
工作溫度范圍	-45~155℃
包裝	盒裝
認證機構	CE
最小包裝量	1
數量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準
用途	老煉老化測試
應用場景	與老化板配合
芯片尺寸	3*3
品牌	ANDK

QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片測試座
1.引腳：28 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.35mm
3.尺寸：3*3mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.