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進(jìn)程帶來的負(fù)面影響。具體措施是：
1、測(cè)試前的準(zhǔn)備
將晶振短路,對(duì)大的電解電容要焊下一條腳使其開路，因?yàn)殡娙莸某浞烹娡瑯右材軒砀蓴_。
2、采用排除法對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試
對(duì)器件進(jìn)行在線測(cè)試或比較過程中，凡是測(cè)試通過（或比較正常）的器件，請(qǐng)直接確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，以便記錄；對(duì)測(cè)試未通過（或比較超差）的，可再測(cè)試一遍，若還是未通過，也可先確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，就這樣一直測(cè)試下去，直到將板上的器件測(cè)試（或比較）完，然后再回過頭來處理那些未通過測(cè)試（或比較超差）的器件。對(duì)未通過功能在線測(cè)試的器件，儀器還提供了一種不太卻又比較實(shí)用的處理方法，由于儀器對(duì)電路板的供電可以通過測(cè)試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳，若對(duì)器件的電源腳實(shí)施刃割，則這個(gè)器件將脫離電路板供電系統(tǒng)，這時(shí)再對(duì)該器件進(jìn)行在線功能測(cè)試，由于電路板上的其他器件將不會(huì)再起干擾作用，實(shí)際測(cè)試效果等同于“準(zhǔn)離線”，測(cè)準(zhǔn)率將獲得很大提高。
3、用ASA-VI曲線掃描測(cè)試對(duì)測(cè)試庫(kù)尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測(cè)試
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對(duì)任何器件的比較測(cè)試，只要測(cè)試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過對(duì)比測(cè)試，同樣對(duì)器件具備較強(qiáng)的故障偵測(cè)能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測(cè)試要受制于測(cè)試庫(kù)的不足，拓展了儀器對(duì)電路板故障的偵測(cè)范圍。現(xiàn)實(shí)中往往會(huì)出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對(duì)稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測(cè)試功能起不了作用，而在線功能測(cè)試由于器件測(cè)試庫(kù)的不完全，無法完成對(duì)電路板上每一個(gè)器件都測(cè)試一遍，電路板依然無法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒有包治百病的藥一樣。
方法四：先靜后動(dòng)
由于電路在線維修儀目前只能對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能在線測(cè)試和靜態(tài)特征分析，是否完全修好必須要經(jīng)過整機(jī)測(cè)試檢驗(yàn)，因此，在檢驗(yàn)時(shí)先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。
維修技巧之三
用萬能表檢測(cè)電路板
1.離線檢測(cè)
測(cè)出IC芯片各引腳對(duì)地之間的正,反電阻值.以此與好的IC芯片
進(jìn)行比較,從而找到故障點(diǎn).
2.在線檢測(cè)
1)直流電阻的檢測(cè)法
同離線檢測(cè).但要注意:
(a)要斷開待測(cè)電路板上的電源;
(b)萬能表內(nèi)部電壓不得大于6V;
(c)測(cè)量時(shí),要注意外圍的影響.如與IC芯片相連的電位器等.
2)直流工作電壓的測(cè)量法
測(cè)得IC芯片各腳直流電壓與正常值相比即可.但也要注意：
(a)萬能表要有足夠大的內(nèi)阻,數(shù)字表為;
(b)各電位器旋到中間位置;
(c)表筆或探頭要采取防滑措施,可用自行車氣門芯套在筆頭上,
并應(yīng)長(zhǎng)出筆尖約5mm;
(d)當(dāng)測(cè)量值與正常值不相符時(shí),應(yīng)根據(jù)該引腳電壓,對(duì)IC芯片正
常值有無影響以及其它引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析;
(e)IC芯片引腳電壓會(huì)受外圍元器件的影響.當(dāng)外圍有漏電,短路,
開路或變質(zhì)等;
(f)IC芯片部分引腳異常時(shí),則從偏離大的入手.先查外圍元器件,
若無故障,則IC芯片損壞;
(g)對(duì)工作時(shí)有動(dòng)態(tài)信號(hào)的電路板,有無信號(hào)IC芯片引腳電壓是不
同的.但若變化不正常則IC芯片可能已壞;
(h)對(duì)多種工作方式的設(shè)備,在不同工作方式時(shí)IC腳的電壓是不同
的.
3)交流工作電壓測(cè)試法
用帶有dB檔的萬能表,對(duì)IC進(jìn)行交流電壓近似值的測(cè)量.若沒有dB
檔,則可在正表筆串入一只0.1-0.5μF隔離直流電容.該方法適用
于工作頻率比較低的IC.但要注意這些信號(hào)將受固有頻率,波形不
同而不同.所以所測(cè)數(shù)據(jù)為近似值,僅供參考.
4)總電流測(cè)量法
通過測(cè)IC電源的總電流,來判別IC的好壞.由于IC內(nèi)部大多數(shù)為直
流耦合,IC損壞時(shí)(如PN結(jié)擊穿或開路)會(huì)引起后級(jí)飽和與截止,使
總電流發(fā)生變化.所以測(cè)總電流可判斷IC的好壞.在線測(cè)得回路電
阻上的電壓,即可算出電流值來.
以上檢測(cè)方法,各有利弊.在實(shí)際應(yīng)用中將這些方法結(jié)合來運(yùn)用.運(yùn)用好了
就能維修好各種電路板。
維修技巧之四
集成電路代換技巧
一、直接代換
直接代換是指用其他IC不經(jīng)任何改動(dòng)而直接取代原來的IC，代換后不影響機(jī)器的主要性能與指標(biāo)。
其代換原則是：代換IC的功能、性能指標(biāo)、封裝形式、引腳用途、引腳序號(hào)和間隔等幾方面均相同。其中IC的功能相同不僅指功能相同；還應(yīng)注意邏輯極性相同，即輸出輸入電平極性、電壓、電流幅度必須相同。例如：圖像中放IC，TA7607與TA7611，前者為反向高放AGC，后者為正向高放AGC，故不能直接代換。除此之外還有輸出不同極性AFT電壓，輸出不同極性的同步脈沖等IC都不能直接代換，即使是同一公司或廠家的產(chǎn)品，都應(yīng)注意區(qū)分。性能指標(biāo)是指IC的主要電參數(shù)（或主要特性曲線）、耗散功率、工作電壓、頻率范圍及各信號(hào)輸入、輸出阻抗等參數(shù)要與原IC相近。功率小的代用件要加大散
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